摘要：本發(fā)明提供一種發(fā)光二極管的光電參數(shù)分組測試方法，其特征在于：一個芯片的完整光電參數(shù)組中，一部分光電參數(shù)是使用本芯片的光電參數(shù)，另外一部分光電參數(shù)是使用在晶圓位置上與本芯片相鄰或相近芯片的光電參數(shù)。本發(fā)明的優(yōu)點在于：按照本發(fā)明的LED芯片測試方法，不需要完整的測試每一顆LED芯片的光電參數(shù)，簡化LED的芯片測試。并且每一顆芯片的光電參數(shù)在其周圍芯片的光電參數(shù)中都有體現(xiàn)。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華燦光電股份有限公司;
- 發(fā)明人張建寶;宋超;
- 地址430223 湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)濱湖路8號
- 申請?zhí)?/b>CN201110258720.4
- 申請時間2011年09月02日
- 申請公布號CN102280395A
- 申請公布時間2011年12月14日
- 分類號H01L21/66(2006.01)I;H01L33/00(2010.01)I;
教育裝備采購網(wǎng)企業(yè)微信客服
京公網(wǎng)安備11010802043465號
