摘要：一種基于MIE散射理論的激光粒度儀，包括激光器，激光器的后端按照激光光路的前進(jìn)方向依次設(shè)置有傅里葉變換鏡頭、樣品測試窗口、光電陣列探測器，還包括輔助光電探測器5，所述輔助光電探測器5設(shè)置在所述樣品測試窗口3與所述光電陣列探測器4之間并與激光光路主軸平行。本實(shí)用新型是基于MIE散射理論的激光粒度儀，代替以往的由半導(dǎo)體或氣體激光器、擴(kuò)束鏡、空間濾波器組成光源系統(tǒng)的激光粒度儀，克服了以往光路調(diào)試對(duì)擴(kuò)束鏡及空間濾波器性能要求過高但同時(shí)又很難滿足的問題。
- 專利類型實(shí)用新型
- 申請(qǐng)人濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司;
- 發(fā)明人任中京;于代君;
- 地址250000 山東省濟(jì)南市高新區(qū)大學(xué)科技園北區(qū)F座東二單元
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201320812021.4
- 申請(qǐng)時(shí)間2013年12月11日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN203587476U
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2014年05月07日
- 分類號(hào)G01N15/02(2006.01)I;
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