摘要：本發(fā)明提供一種用于光子相關(guān)納米粒度儀的數(shù)字相關(guān)器，是一種基于動態(tài)光散射原理測試納米及亞微米顆粒粒度測試技術(shù)中用于獲取散射光信號自相關(guān)函數(shù)和互相關(guān)函數(shù)的數(shù)字相關(guān)器，其結(jié)構(gòu)包括固化在FPGA中的采樣時間設(shè)置模塊、光子計數(shù)模塊、相關(guān)運(yùn)算模塊、USB通訊模塊和同步復(fù)位模塊，上述光子計數(shù)模塊均與采樣時間設(shè)置模塊相連接，光子計數(shù)模塊又與相關(guān)運(yùn)算模塊的信號輸入端相連接，相關(guān)運(yùn)算模塊的信號輸出端與USB通訊模塊相連接，同步復(fù)位模塊與光子計數(shù)模塊、相關(guān)運(yùn)算模塊和USB通訊模塊相連接。本發(fā)明實現(xiàn)了光子脈沖計數(shù)、自相關(guān)運(yùn)算、互相關(guān)運(yùn)算以及與計算機(jī)通訊的功能，具有采樣速度快、延遲時間范圍廣、相關(guān)通道多的特點，完全滿足納米顆粒粒度測試中獲取高速變化的動態(tài)散射光信號的自相關(guān)函數(shù)和互相關(guān)函數(shù)的高難度需求。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司;
- 發(fā)明人任中京;陳棟章;
- 地址250100 山東省濟(jì)南市高新區(qū)大學(xué)科技園北區(qū)F座東2單元
- 申請?zhí)?/b>CN201010533183.5
- 申請時間2010年11月05日
- 申請公布號CN102033032B
- 申請公布時間2012年09月05日
- 分類號G01N15/02(2006.01)I;G01N15/10(2006.01)I;
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