摘要：本實用新型提供一種帶有輔助探測結(jié)構(gòu)的噴霧激光粒度儀，屬于粒度分析儀器領(lǐng)域，其結(jié)構(gòu)包括由激光器、擴束鏡、準(zhǔn)直透鏡、傅立葉透鏡和環(huán)形陣列探測器組成的主光路，其創(chuàng)新點是在傅立葉透鏡的一側(cè)設(shè)置有柱面透鏡，柱面透鏡的焦面上設(shè)置有條形陣列探測器，上述柱面透鏡和條形陣列探測器組成輔助光路，且輔助光路的光軸與主光路的光軸相平行，柱面透鏡的子午面與兩光軸共面，輔助光路的光軸與主光路的光軸距離可調(diào)。本實用新型既不改變原有儀器結(jié)構(gòu)，也不增加現(xiàn)有儀器體積，只須在原傅立葉鏡頭下方開一條縫隙即可方便安裝；不僅擴大了測量范圍，將噴霧激光粒度儀的測試下限由5微米延伸到1微米，而且測試區(qū)域可以調(diào)節(jié)，特別適用于分體式噴霧激光粒度儀的測試范圍擴展。
- 專利類型實用新型
- 申請人濟南微納顆粒儀器股份有限公司;
- 發(fā)明人任中京;陳棟章;
- 地址250100 山東省濟南市高新區(qū)大學(xué)科技園北區(qū)F座東2單元
- 申請?zhí)?/b>CN201120267648.7
- 申請時間2011年07月26日
- 申請公布號CN202166590U
- 申請公布時間2012年03月14日
- 分類號G01N15/02(2006.01)I;
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