摘要：單光束雙工位大量程激光粒度測量裝置，包括一用于發(fā)射激光的激光器1，激光器1的后端按照激光光路的前進(jìn)方向依次設(shè)置有擴(kuò)束鏡2、傅里葉透鏡4、用于改變激光光路方向的光學(xué)組件、光電探測器陣列10，一樣品窗6，所述傅里葉透鏡4和光學(xué)組件之間設(shè)有第一工位12，所述光學(xué)組件和光電探測器陣列10之間設(shè)有第二工位9，所述樣品窗6在所述第一工位12和第二工位9之間相對移動(dòng)。本發(fā)明的有益效果為：采用折疊光路，可移動(dòng)樣品窗，實(shí)現(xiàn)了對樣品的二次測試，擴(kuò)大了儀器測量范圍,光路長度縮短為原長的1/2。大大減小了儀器體積，提高了儀器測量精度，為激光粒度儀的廣泛普及提供了一種全新最優(yōu)化的結(jié)構(gòu)。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司;
- 發(fā)明人任中京;陳棟章;
- 地址250000 山東省濟(jì)南市高新區(qū)大學(xué)科技園北區(qū)F座東二單元
- 申請?zhí)?/b>CN201310343638.0
- 申請時(shí)間2013年08月08日
- 申請公布號(hào)CN103398926B
- 申請公布時(shí)間2017年01月11日
- 分類號(hào)G01N15/02(2006.01)I;
教育裝備采購網(wǎng)企業(yè)微信客服
京公網(wǎng)安備11010802043465號(hào)
