摘要：本發(fā)明公開了一種三角波激勵磁場下磁性納米粒子粒徑分布測量系統(tǒng)及方法，屬于納米測試技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明在準(zhǔn)確測量三角波激勵磁場和磁性納米粒子磁化強(qiáng)度信號的基礎(chǔ)上，得到磁性納米粒子的磁化曲線。再將磁化曲線在Matlab最優(yōu)化工具箱中進(jìn)行擬合，最終得到磁性納米粒子的粒徑分布。磁性納米粒子的磁化曲線可以在實(shí)驗(yàn)裝置上獲取，不需要借助其他外部磁場測量設(shè)備,測量成本低。利用全局搜索等優(yōu)化算法可以從磁化曲線中準(zhǔn)確地提取出粒徑分布，不需要借助磁性納米粒子的其他特性，測量過程快速簡易。本發(fā)明的測量方法不僅對單一粒徑分布的磁性納米粒子適用，對存在二聚體的磁性納米粒子也同樣適用。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華中科技大學(xué);
- 發(fā)明人蔣玲;劉文中;馬利;程文祥;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號
- 申請?zhí)?/b>CN201510197371.8
- 申請時間2015年04月24日
- 申請公布號CN104865170A
- 申請公布時間2015年08月26日
- 分類號G01N15/02(2006.01)I;
教育裝備采購網(wǎng)企業(yè)微信客服
京公網(wǎng)安備11010802043465號
