摘要：本實(shí)用新型提供一種靜態(tài)光散射納米顆粒粒度測(cè)量裝置，屬于粒度分析儀器領(lǐng)域，其結(jié)構(gòu)包括激光器、流動(dòng)樣品池、柱面透鏡、條形陣列光電探測(cè)器，流動(dòng)樣品池為四面透光的空心矩形立方體，激光器位于流動(dòng)樣品池的窄透光面一側(cè)，柱面透鏡附著在流動(dòng)樣品池的寬透光面上，條形陣列光電探測(cè)器位于柱面透鏡的焦平面上，且柱面透鏡和條形陣列光電探測(cè)器組成的探測(cè)系統(tǒng)的光軸與激光束互相垂直，在同一個(gè)子午平面內(nèi)。本實(shí)用新型的特點(diǎn)是專門探測(cè)顆粒的前側(cè)向和后側(cè)向散射光的能量分布，因此適用于靜態(tài)光散射納米顆粒粒度分析。測(cè)試散射光范圍45度至135度?？蓽y(cè)量的粒度范圍為10納米至5000納米。
- 專利類型實(shí)用新型
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