摘要：一種測量亞微米至納米粒度段粒度分布的激光粒度儀，包括激光光源裝置、樣品測試窗口（3）、散射信號接收裝置（4）及與之電連接的信號處理系統(tǒng)（5），激光光源裝置包括第一激光器（1）和第二激光器（2）；散射信號接收裝置是由（14）組光電探測器按照一定的規(guī)律排列，可以接收來自樣品測試窗口中心固定角度的散射信號，該系統(tǒng)可以將來自樣品測試窗口中心15°~130°的散射信號完整的接收并傳輸至計算機，計算機根據(jù)MIE散射理論可以計算出量程在0.05μm~1μm范圍內(nèi)所測樣品的粒度分布圖。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人濟南微納顆粒儀器股份有限公司;
- 發(fā)明人任中京;于代軍;
- 地址250000 山東省濟南市高新區(qū)大學(xué)科技園北區(qū)F座東二單元
- 申請?zhí)?/b>CN201410325383.X
- 申請時間2014年07月09日
- 申請公布號CN104075966B
- 申請公布時間2016年07月06日
- 分類號G01N15/02(2006.01)I;
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