摘要：本發(fā)明涉及一種二維折射率分布與三維形貌同時動態(tài)測量的方法，利用數(shù)字全息顯微術(shù)全場、高分辨率及動態(tài)測量的優(yōu)點，將短邊拋光的道威棱鏡引入到測量光路，實現(xiàn)全內(nèi)反射數(shù)字全息顯微光路與透射式數(shù)字全息顯微光路的集成。借助角度復(fù)用與偏振復(fù)用技術(shù)，利用透射式數(shù)字全息顯微光路動態(tài)記錄包含物體折射率和厚度分布(或形貌)信息的物光波相位分布信息，利用全內(nèi)反射數(shù)字全息顯微光路同步記錄物體的二維折射率分布信息，通過簡單的數(shù)學(xué)運算，從而實現(xiàn)對物體二維折射率分布與三維形貌的同時動態(tài)測量。所涉及的測量方法無需額外的填充溶液，適用于透明/半透明液體或固體的測量，克服了已有方法的不足。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人西北工業(yè)大學(xué);
- 發(fā)明人趙建林;張繼巍;馬超杰;邸江磊;
- 地址710072 陜西省西安市碑林區(qū)友誼西路127號
- 申請?zhí)?/b>CN201610445233.1
- 申請時間2016年06月20日
- 申請公布號CN106123770A
- 申請公布時間2016年11月16日
- 分類號G01B9/023(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I;G01N21/45(2006.01)I;
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