摘要：本發(fā)明提供了一種表面缺陷檢測(cè)方法，將待檢測(cè)金屬機(jī)加件的表面頻譜圖與表面無(wú)缺陷的金屬機(jī)加件的表面頻譜圖相減，得到缺陷頻譜圖。而缺陷頻譜圖，實(shí)際上是將待檢測(cè)金屬機(jī)加件表面背景的頻譜去除后的頻譜圖。因此，將缺陷頻譜圖進(jìn)行傅立葉逆變換，得到的是待檢測(cè)金屬機(jī)加件去除表面背景后的表面圖像。將該表面圖像進(jìn)行顯示，便可清晰的分辨出待檢測(cè)機(jī)加件的表面是否存在缺陷，以及缺陷的分布狀況。因此，上述表面缺陷檢測(cè)裝置及方法可減弱金屬機(jī)加件表面背景對(duì)檢測(cè)過程的干擾，從而提升缺陷檢測(cè)的效果，并提高缺陷檢測(cè)速度。此外，本發(fā)明還提供一種表面缺陷檢測(cè)裝置。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族電機(jī)科技有限公司;
- 發(fā)明人舒遠(yuǎn);李玉廷;王光能;文茜;米野;丁兵;高云峰;
- 地址518000 廣東省深圳市南山區(qū)高新技術(shù)園北區(qū)新西路9號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201410284824.6
- 申請(qǐng)時(shí)間2014年06月23日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN104101601A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2014年10月15日
- 分類號(hào)G01N21/88(2006.01)I;
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