摘要：本發(fā)明涉及一種AOI測(cè)試參數(shù)的調(diào)整方法和裝置，該方法包括以下步驟：在顯示界面顯示被檢測(cè)設(shè)備的AOI測(cè)試結(jié)果，標(biāo)記出所檢測(cè)到的問題器件；檢測(cè)是否獲取到對(duì)其中一個(gè)問題器件的參數(shù)調(diào)整指令；若是，則根據(jù)參數(shù)調(diào)整指令在顯示界面上同時(shí)顯示與問題器件對(duì)應(yīng)的參數(shù)設(shè)置表；獲取在參數(shù)設(shè)置表內(nèi)輸入的測(cè)試參數(shù)，并更新問題器件的測(cè)試參數(shù)。該方法通過觸發(fā)參數(shù)調(diào)整指令，在顯示測(cè)試結(jié)果的同時(shí)顯示對(duì)應(yīng)的參數(shù)設(shè)置表，用戶通過參數(shù)設(shè)置表即可實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試參數(shù)的調(diào)整，無需退出測(cè)試程序進(jìn)行界面的切換操作，能夠提高AOI測(cè)試參數(shù)的調(diào)整效率，進(jìn)而提高AOI測(cè)試的效率。
- 專利類型發(fā)明專利
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- 申請(qǐng)公布時(shí)間2017年03月22日
- 分類號(hào)G01N21/88(2006.01)I;
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