摘要：本發(fā)明公開(kāi)了一種用于雙檢測(cè)器直流塞曼原子吸收的偏振調(diào)校方法及裝置，該方案利用一繞中心軸轉(zhuǎn)動(dòng)的偏振棱鏡，對(duì)調(diào)校光源進(jìn)行分離，讓偏振面隨偏振棱鏡旋轉(zhuǎn)的偏振光沿著原子吸收的光軸進(jìn)入出口狹縫，并分開(kāi)其余偏振光；使得雙檢測(cè)器中兩個(gè)光電倍增管分別得到呈正弦波的光信號(hào)，再根據(jù)兩正弦波的光信號(hào)對(duì)雙檢測(cè)器直流塞曼原子吸收光學(xué)調(diào)校，使得兩正弦波的光信號(hào)谷底為零。本發(fā)明能夠?qū)﹄p檢測(cè)器直流塞曼原子吸收過(guò)程中的光線偏振進(jìn)行精確調(diào)校，保證檢測(cè)結(jié)果的精確度。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人上海光譜儀器有限公司;
- 發(fā)明人陳建鋼;楊嘯濤;劉志高;俞俊良;
- 地址201709 上海市青浦區(qū)白鶴鎮(zhèn)工業(yè)園區(qū)4小區(qū)第4幢24號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201410136156.2
- 申請(qǐng)時(shí)間2014年04月04日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN103940512B
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2016年11月09日
- 分類號(hào)G01J3/42(2006.01)I;G02B26/00(2006.01)I;
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