摘要：本發(fā)明公開了一種光學(xué)參數(shù)絕對值測量儀及其測量方法，其特征在于檢測器的位置和樣品臺均可繞樣品臺的圓心O點旋轉(zhuǎn)，旋轉(zhuǎn)的角度由微處理器CPU根據(jù)外接計算機(jī)的指令控制步進(jìn)電機(jī)執(zhí)行。測量時以空氣作參比，記錄、計算樣品的反射率的絕對值。與現(xiàn)有技術(shù)相比，由于無多塊反射鏡的多次反射，使進(jìn)入檢測器的光能量強(qiáng)，儀器操作簡便、高速，測量準(zhǔn)確度高，重復(fù)性好。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人上海光譜儀器有限公司;
- 發(fā)明人陳建鋼;劉志高;黃蕾;邊麗;
- 地址200233上海市宜山路705號科技大廈4－10樓
- 申請?zhí)?/b>CN200510072536.5
- 申請時間2005年05月10日
- 申請公布號CN1746657A
- 申請公布時間2006年03月15日
- 分類號G01N21/17(2006.01);G01N21/55(2006.01);
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