摘要：本發(fā)明公開(kāi)了一種光學(xué)參數(shù)絕對(duì)值測(cè)量?jī)x及其測(cè)量方法，其特征在于檢測(cè)器的位置和樣品臺(tái)均可繞樣品臺(tái)的圓心O點(diǎn)旋轉(zhuǎn)，旋轉(zhuǎn)的角度由微處理器CPU根據(jù)外接計(jì)算機(jī)的指令控制步進(jìn)電機(jī)執(zhí)行。測(cè)量時(shí)以空氣作參比，記錄、計(jì)算樣品的反射率的絕對(duì)值。與現(xiàn)有技術(shù)相比，由于無(wú)多塊反射鏡的多次反射，使進(jìn)入檢測(cè)器的光能量強(qiáng)，儀器操作簡(jiǎn)便、高速，測(cè)量準(zhǔn)確度高，重復(fù)性好。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人上海光譜儀器有限公司;
- 發(fā)明人陳建鋼;劉志高;黃蕾;邊麗;
- 地址200233上海市宜山路705號(hào)科技大廈4－10樓
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN200510072536.5
- 申請(qǐng)時(shí)間2005年05月10日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN1746657A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2006年03月15日
- 分類號(hào)G01N21/17(2006.01);G01N21/55(2006.01);
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