摘要：本發(fā)明涉及一種微型全分析系統(tǒng)芯片高度定位方法：先用標(biāo)準(zhǔn)芯片調(diào)整光源和芯片工作臺高度，使俯視時可觀察到的光源聚焦點小于、等于微通道的寬度；工作芯片包括蓋片和基片，鍵合法使基片的上表面與蓋片下表面緊密貼合，蓋片上刻有小孔，基片的上表面刻有微通道，所述小孔分別與相應(yīng)的微通道相通，蓋片的面積大于基片的面積，形成工作芯片安放在于芯片工作臺上時的支撐定位面，使蓋片上的支撐定位面與芯片工作臺的臺面相接觸。本發(fā)明提供的芯片高度定位方法，可以避免芯片由于材料或加工技術(shù)差別，造成的芯片厚度差別帶來的高度定位誤差，不需要人工的反復(fù)調(diào)整也不需要高成本、高技術(shù)的自動調(diào)節(jié)系統(tǒng)，可輕松簡單地保證每一塊芯片相對于光源高度的正確定位。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人上海光譜儀器有限公司;
- 發(fā)明人王鶚;陳建鋼;方群;劉志高;王偉;張濤;富景林;張大偉;
- 地址200233上海市漕河涇高新技術(shù)開發(fā)區(qū)欽州北路1122號91號樓十樓
- 申請?zhí)?/b>CN200610025730.2
- 申請時間2006年04月14日
- 申請公布號CN1888943A
- 申請公布時間2007年01月03日
- 分類號G02B7/00(2006.01);G01M11/00(2006.01);
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