摘要：本發(fā)明公開的使用光譜掃描或波長偏置進行光譜儀雜散光自動檢測和動態(tài)扣除的方法，其首先采用單道或雙道波長掃描方法獲得光譜儀銳線光源的光譜掃描圖譜；然后對光譜掃描數據進行處理，獲得雜散光比率數據；再用獲得的雜散光比率數據重置雜散光扣除程式中的雜散光比率值；最后在接收儀器信號正常測試的同時，動態(tài)扣除單道或雙道雜散光。本發(fā)明在無須使用任何標準物質的前提下，不增加任何硬件成本，利用銳線光源本身的光譜性質，讓光譜儀器進行雜散光自動檢測及其動態(tài)扣除，極大的提高原子吸收光譜儀的光精度、線性范圍、背景校正能力；該技術應用于原子吸收光譜儀高性能自吸背景校正時，儀器的背景校正性能可提高到在1Abs時大于100倍，2Abs時大于80倍。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人上海光譜儀器有限公司;
- 發(fā)明人劉志高;劉瑤函;
- 地址201709 上海市青浦區(qū)白鶴鎮(zhèn)工業(yè)園區(qū)4小區(qū)第4幢24號
- 申請?zhí)?/b>CN200710046942.3
- 申請時間2007年10月11日
- 申請公布號CN101408503B
- 申請公布時間2011年01月05日
- 分類號G01N21/31(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I;
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