摘要：本發(fā)明提供一種分光光度計的全波段波長校正方法，用于分光光度計，所述分光光度計包括：一個提供復合光的光源單元，一個用于依據位移量產生單色光的單色器，一個用于設置被測樣品，使所述單色光射入被測樣品，產生測量結果的測量單元，一個依據所述測量結果產生所述位移量的控制單元，所述方法包括如下步驟：加入具有多個特征峰值的標準物質作為被測樣品，獲取標準物質的測量結果，依據所述測量結果中的兩個相鄰的特征峰值所對應的單色光的波長和位移量，設定該兩個峰值之間的單色光的波長所對應的位移量。本發(fā)明能夠在復合光全波段范圍內將波長分段進行校正，每個波段都有相應的波長校正系數，有效地提高了波長準確度。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京普源精電科技有限公司;
- 發(fā)明人王悅;王鐵軍;李維森;
- 地址102206 北京市昌平區(qū)沙河鎮(zhèn)踩河村156號
- 申請?zhí)?/b>CN201010268956.1
- 申請時間2010年09月01日
- 申請公布號CN102384785A
- 申請公布時間2012年03月21日
- 分類號G01J3/42(2006.01)I;G01N21/31(2006.01)I;
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