摘要：本發(fā)明公開了一種用于雙檢測器直流塞曼原子吸收的偏振調校方法及裝置，該方案利用一繞中心軸轉動的偏振棱鏡，對調校光源進行分離，讓偏振面隨偏振棱鏡旋轉的偏振光沿著原子吸收的光軸進入出口狹縫，并分開其余偏振光；使得雙檢測器中兩個光電倍增管分別得到呈正弦波的光信號，再根據(jù)兩正弦波的光信號對雙檢測器直流塞曼原子吸收光學調校，使得兩正弦波的光信號谷底為零。本發(fā)明能夠對雙檢測器直流塞曼原子吸收過程中的光線偏振進行精確調校，保證檢測結果的精確度。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人上海光譜儀器有限公司;
- 發(fā)明人陳建鋼;楊嘯濤;劉志高;俞俊良;
- 地址201709 上海市青浦區(qū)白鶴鎮(zhèn)工業(yè)園區(qū)4小區(qū)第4幢24號
- 申請?zhí)?/b>CN201410136156.2
- 申請時間2014年04月04日
- 申請公布號CN103940512A
- 申請公布時間2014年07月23日
- 分類號G01J3/42(2006.01)I;G02B26/00(2006.01)I;
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