摘要：本發(fā)明提出了一種一鍵式光學(xué)測量儀，該一鍵式光學(xué)測量儀包括光學(xué)系統(tǒng)，標(biāo)定系統(tǒng)，匹配系統(tǒng)，圖像測量系統(tǒng)，該測量儀通過光學(xué)系統(tǒng)完成對待測件的低畸變成像，通過標(biāo)定系統(tǒng)計(jì)算圖像中每個(gè)像素代表的實(shí)際尺寸大小，通過匹配系統(tǒng)完成對待測件的放置位置進(jìn)行調(diào)整，通過圖像測量系統(tǒng)完成對各個(gè)測量參數(shù)的微米級測量，整個(gè)測量儀突破了硬件設(shè)施和光學(xué)系統(tǒng)所帶來的精度限制，大大提高了測量的精度和效率。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人成都術(shù)有科技有限公司;
- 發(fā)明人陳鎮(zhèn)龍;羅穎;宋昀岑;譚育;譚良;凌云;謝恒;劉丁維;李文龍;楊學(xué)光;薛丙強(qiáng);丁健;
- 地址610000 四川省成都市一環(huán)路東一段159號
- 申請?zhí)?/b>CN201310567146.X
- 申請時(shí)間2013年11月13日
- 申請公布號CN103575742B
- 申請公布時(shí)間2015年11月18日
- 分類號G01N21/88(2006.01)I;G01N21/956(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I;
教育裝備采購網(wǎng)企業(yè)微信客服
京公網(wǎng)安備11010802043465號
