摘要:本發(fā)明公開(kāi)了一種基于Gerber文檔內(nèi)建建標(biāo)的電路板精準(zhǔn)檢測(cè)方法,方法步驟如下,a.獲取制作電路板的標(biāo)準(zhǔn)光繪文件即Gerber文檔;b.分析Gerber的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),采用自上而下方式利用正則表達(dá)式分析方法提取出所需信息;c.通過(guò)形態(tài)學(xué)算法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)BP算法對(duì)Gerber文檔解析后的圖像進(jìn)行修正;d.利用Gerber文檔的分層圖像。與現(xiàn)有方法相比較,本發(fā)明通過(guò)解析電路板在制造階段對(duì)應(yīng)的Gerber標(biāo)準(zhǔn)文件,避免實(shí)際板偏差過(guò)大的情況出現(xiàn),引入Gerber文檔的解析方法,結(jié)合模式識(shí)別中神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法、形態(tài)學(xué)算法對(duì)解析標(biāo)準(zhǔn)板進(jìn)行修正,生成標(biāo)準(zhǔn)圖像,從而提高后續(xù)參考對(duì)比算法處理的精度和速度。
- 專(zhuān)利類(lèi)型發(fā)明專(zhuān)利
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- 發(fā)明人陳鎮(zhèn)龍;宋昀岑;羅穎;譚育;譚良;謝恒;凌云;劉丁維;楊學(xué)光;賈宏宇;李文龍;
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- 申請(qǐng)公布時(shí)間2014年03月26日
- 分類(lèi)號(hào)G06F17/30(2006.01)I;




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