摘要：本發(fā)明公開了一種峰值電壓檢測電路，用于解決現(xiàn)有峰值電壓檢測電路精度低的技術(shù)問題。技術(shù)方案是電路由可控延時單元、遲滯比較器、傳輸門開關(guān)和保持電容組成?？煽匮訒r單元由無源RC電路實現(xiàn)；傳輸門開關(guān)由NMOS管和PMOS管并聯(lián)實現(xiàn)。輸入信號經(jīng)可控延時單元延時后得到延時信號，延時信號輸入到遲滯比較器，遲滯比較器的的輸出信號Vn和Vp分別控制NMOS管和PMOS管的通斷，使得保持電容Ch兩端電壓Vout跟隨延時信號Vd變化，保持電容上的輸出電壓即為峰值輸出電壓。由于增加了遲滯比較器和可控延時單元，峰值電壓檢測誤差由背景技術(shù)的5%～18%減小到<1%，探測精度由背景技術(shù)的82%～95%提高到到99%以上。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人西北工業(yè)大學(xué);
- 發(fā)明人曾蕙明;魏廷存;高武;王佳;胡永才;
- 地址710072 陜西省西安市友誼西路127號
- 申請?zhí)?/b>CN201310390314.2
- 申請時間2013年08月30日
- 申請公布號CN103472288A
- 申請公布時間2013年12月25日
- 分類號G01R19/04(2006.01)I;
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