摘要：本發(fā)明涉及一種防偽檢測系統(tǒng)，包括：激勵磁場發(fā)生裝置，用于產(chǎn)生激勵磁場；感測信號提取裝置，用于在將防偽材料置入所述激勵磁場時，提取所述防偽材料中的非晶合金細(xì)長材料在所述激勵磁場中感生出的感生電壓信號，其中所述非晶合金細(xì)長材料的長度方向與所述激勵磁場方向一致；防偽信號判斷裝置，用于判斷所述感生電壓信號的衰減方式是否符合預(yù)設(shè)要求，是則確定所述防偽材料為真防偽材料，否則確定所述防偽材料為假防偽材料。本發(fā)明以非晶合金感生出的電壓信號的衰減情況作為防偽材料真?zhèn)蔚呐袛嘁罁?jù)，這既不要求防偽材料中非晶合金細(xì)長材料有特定順序，也避免了在對防偽材料進(jìn)行防偽檢測時，褶皺或者傾斜等帶來的誤報問題。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人安泰科技股份有限公司;
- 發(fā)明人陳征;種挺;張俊峰;張宏浩;李德仁;盧志超;周少雄;
- 地址100081 北京市海淀區(qū)學(xué)院南路76號
- 申請?zhí)?/b>CN200910158123.7
- 申請時間2009年07月13日
- 申請公布號CN101900756A
- 申請公布時間2010年12月01日
- 分類號G01R19/04(2006.01)I;G01R19/25(2006.01)I;D21H21/42(2006.01)I;
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