摘要：本發(fā)明涉及一種防偽材料，防偽材料的基片中嵌入或貼附有至少兩根非晶合金細(xì)長材料，非晶合金細(xì)長材料中至少有兩根具有不同的矯頑力，非晶合金細(xì)長材料相互平行。本發(fā)明還涉及一種防偽檢測的方法，包括以下步驟：將防偽材料置入激勵(lì)磁場，并提取非晶合金細(xì)長材料在激勵(lì)磁場中感生出的感生電壓信號(hào)；判斷感生電壓信號(hào)的衰減方式是否符合預(yù)設(shè)要求，是則確定防偽材料為真防偽材料，否則確定防偽材料為假防偽材料。本發(fā)明以非晶合金感生出的電壓信號(hào)的衰減情況作為防偽材料真?zhèn)蔚呐袛嘁罁?jù)，這既不要求防偽材料中非晶合金細(xì)長材料有特定順序，也避免了在對防偽材料進(jìn)行防偽檢測時(shí)，褶皺或者傾斜等帶來的誤報(bào)問題。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人安泰科技股份有限公司;
- 發(fā)明人陳 征;張俊峰;張宏浩;種 挺;李德仁;盧志超;周少雄;
- 地址100081北京市海淀區(qū)學(xué)院南路76號(hào)
- 申請?zhí)?/b>CN200810183553.X
- 申請時(shí)間2008年12月18日
- 申請公布號(hào)CN101424059A
- 申請公布時(shí)間2009年05月06日
- 分類號(hào)D21H21/42(2006.01)I;
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