摘要：本發(fā)明公開了光學(xué)透鏡中心厚度測(cè)量系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)包括光源，所述光源連接有分光裝置，分光裝置和光學(xué)探頭正對(duì)且中心位于同一軸上，所述分光裝置的一端還連接有光譜儀，光譜儀連接到計(jì)算機(jī)上。該方法為：光源發(fā)出的多色光經(jīng)過(guò)分光裝置進(jìn)行光線耦合后進(jìn)入光學(xué)探頭；經(jīng)過(guò)光學(xué)探頭的多色光射到被測(cè)零件上發(fā)生反射、折射；反射回探頭的光通過(guò)分光裝置后進(jìn)入到光譜儀；光譜儀根據(jù)返回光的能量分析得出不同波長(zhǎng)光的能量曲線圖；將所得的數(shù)據(jù)傳輸給計(jì)算機(jī)，通過(guò)公式進(jìn)行計(jì)算得出透鏡中心厚度，并顯示出來(lái)。本發(fā)明在測(cè)量時(shí)簡(jiǎn)單便捷、數(shù)據(jù)精準(zhǔn)，且非接觸的測(cè)量方法不會(huì)損壞零件，作為光學(xué)透鏡中心厚度測(cè)量系統(tǒng)及方法廣泛運(yùn)用于光學(xué)零件的精密測(cè)量。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人廣州標(biāo)旗電子科技有限公司;
- 發(fā)明人宋光均;吳劍峰;鄭祥利;
- 地址510640 廣東省廣州市天河區(qū)金穎路1號(hào)金穎大廈1711室
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201110405930.1
- 申請(qǐng)時(shí)間2011年12月08日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN102435146A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2012年05月02日
- 分類號(hào)G01B11/06(2006.01)I;
教育裝備采購(gòu)網(wǎng)企業(yè)微信客服
京公網(wǎng)安備11010802043465號(hào)
