摘要：本發(fā)明公開了光學透鏡中心厚度測量系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)包括光源，所述光源連接有分光裝置，分光裝置和光學探頭正對且中心位于同一軸上，所述分光裝置的一端還連接有光譜儀，光譜儀連接到計算機上。該方法為：光源發(fā)出的多色光經過分光裝置進行光線耦合后進入光學探頭；經過光學探頭的多色光射到被測零件上發(fā)生反射、折射；反射回探頭的光通過分光裝置后進入到光譜儀；光譜儀根據返回光的能量分析得出不同波長光的能量曲線圖；將所得的數據傳輸給計算機，通過公式進行計算得出透鏡中心厚度，并顯示出來。本發(fā)明在測量時簡單便捷、數據精準，且非接觸的測量方法不會損壞零件，作為光學透鏡中心厚度測量系統(tǒng)及方法廣泛運用于光學零件的精密測量。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人廣州標旗電子科技有限公司;
- 發(fā)明人宋光均;吳劍峰;鄭祥利;
- 地址510640 廣東省廣州市天河區(qū)金穎路1號金穎大廈1711室
- 申請?zhí)?/b>CN201110405930.1
- 申請時間2011年12月08日
- 申請公布號CN102435146A
- 申請公布時間2012年05月02日
- 分類號G01B11/06(2006.01)I;
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