摘要：本發(fā)明公開了一種用于寶石檢測的反射光譜測量取樣系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)包括：第一光源、第二光源、濾光元件、積分球、光導(dǎo)纖維、分光檢測模塊、模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊及數(shù)據(jù)處理終端，所述積分球上設(shè)有入射孔、采樣口及反射光出射口。本發(fā)明可采集經(jīng)寶石反射后的光線的實時光譜，且可有效獲得用戶所選的波長范圍的“全光”信息，解決了隨形樣品測量過程中出現(xiàn)的不確定性問題，省去了單色掃描、機械分光等繁瑣的操作步驟，極大地提高了寶石檢測分析測試的效率。本發(fā)明作為一種性能優(yōu)良的用于寶石檢測的反射測量光譜取樣系統(tǒng)及方法可廣泛應(yīng)用于珠寶鑒定行業(yè)中。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人廣州標旗電子科技有限公司;
- 發(fā)明人宋光均;鄭祥利;吳劍峰;高玲;
- 地址510640 廣東省廣州市天河區(qū)金穎路1號1711房
- 申請?zhí)?/b>CN201210439044.5
- 申請時間2012年11月06日
- 申請公布號CN102967604A
- 申請公布時間2013年03月13日
- 分類號G01N21/87(2006.01)I;G01N21/27(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;
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