摘要：本發(fā)明公開(kāi)了一種鉆石批量檢測(cè)裝置和方法，所述工作臺(tái)上放置有待檢鉆石，所述Y型光纖包括進(jìn)光口、出光口和采光口，所述Y型光纖的進(jìn)光口與光源連接，所述Y型光纖的出光口與光譜儀連接，所述Y型光纖的采光口與正在檢測(cè)的待檢鉆石位置對(duì)應(yīng)，所述采光口和工作臺(tái)之間設(shè)置有驅(qū)動(dòng)裝置，所述驅(qū)動(dòng)裝置可以驅(qū)動(dòng)采光口和工作臺(tái)進(jìn)行相對(duì)移動(dòng)，通過(guò)相對(duì)移動(dòng)采光口對(duì)工作臺(tái)上的待檢鉆石進(jìn)行逐一掃描檢測(cè)。本發(fā)明通過(guò)驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)采光口與工作臺(tái)進(jìn)行相對(duì)位移，無(wú)需人工進(jìn)行位移，提高檢測(cè)速度和穩(wěn)定性；采用消光層作為工作臺(tái)表層，能降低檢測(cè)過(guò)程中分背景反射，提高檢測(cè)精度；采用全光譜分析，能夠提高甄別的精度，有效區(qū)分人造鉆石和天然鉆石。
- 專利類型發(fā)明專利
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- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201510646074.7
- 申請(qǐng)時(shí)間2015年09月30日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN105136705A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2015年12月09日
- 分類號(hào)G01N21/31(2006.01)I;G01N21/87(2006.01)I;
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