摘要：本實(shí)用新型公開了一種光學(xué)元件反射率檢測(cè)儀，包括一光源，將所述光源發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄獾牡谝痪酃忡R，與第一聚光鏡透過光線成45°夾角設(shè)置有半透半反鏡，該半透半反鏡的上方平行設(shè)置有一分光鏡，該分光鏡的上方設(shè)置有一接收分光鏡透過光線的電子目鏡，所述半透半反鏡的下方設(shè)置有一將該半透半反鏡反射的光線聚焦的物鏡，所述物鏡下方的焦點(diǎn)處設(shè)有一三維樣品調(diào)節(jié)臺(tái)，還包括一將所述分光鏡反射光線聚焦的第二聚光鏡，接收透過所述第二聚光鏡的光信號(hào)的光譜儀。本檢測(cè)儀不僅操作方便，而且能夠準(zhǔn)確檢測(cè)球面光學(xué)元件的反射率，廣泛適用于光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域。
- 專利類型實(shí)用新型
- 申請(qǐng)人廣州標(biāo)旗電子科技有限公司;
- 發(fā)明人宋光均;吳劍峰;鄭祥利;
- 地址510640 廣東省廣州市天河區(qū)金穎路1號(hào)金穎大廈1711室
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201120508430.6
- 申請(qǐng)時(shí)間2011年12月08日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN202393582U
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2012年08月22日
- 分類號(hào)G01M11/02(2006.01)I;
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