摘要：發(fā)明提供的一種λ/2電壓電光開(kāi)關(guān)的動(dòng)態(tài)透過(guò)率的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法，所述測(cè)試系統(tǒng)包括激光光源、起偏器、檢偏器、偏振分光裝置、λ/2波片、擴(kuò)束裝置、示波器和數(shù)據(jù)處理模塊；在使用所述測(cè)試系統(tǒng)時(shí)，λ/2電壓電光開(kāi)關(guān)放置在起偏器和檢偏器之間，示波器的波形探頭沿著檢偏器的出射光方向放置。本發(fā)明提供的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法能減少由激光光源脈沖能量起伏引起的誤差，可以測(cè)量各種口徑的λ/2電壓電光開(kāi)關(guān)的動(dòng)態(tài)透過(guò)率。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人北京國(guó)科世紀(jì)激光技術(shù)有限公司;
- 發(fā)明人樊仲維;邱基斯;唐熊忻;張晶;張國(guó)新;
- 地址100192 北京市海淀區(qū)西小口路66號(hào)東升科技園北領(lǐng)地C區(qū)7號(hào)樓二層
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201010605703.9
- 申請(qǐng)時(shí)間2010年12月27日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN102486435B
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2014年03月12日
- 分類號(hào)G01M11/02(2006.01)I;
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