摘要：本發(fā)明涉及一種采用雙波長結(jié)構(gòu)光測(cè)量物體輪廓的方法及裝置，屬于光學(xué)測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域。首先投影儀產(chǎn)生一束經(jīng)正弦調(diào)制后的白光，將白光照射到待測(cè)物體上，光場(chǎng)被待測(cè)物體調(diào)制，照相機(jī)拍攝得到圖像，使用自相關(guān)法計(jì)算上述圖像上各像素點(diǎn)的相位差，以另一波長進(jìn)行正弦調(diào)制，重復(fù)上述過程得到相位差，對(duì)兩次正弦調(diào)制的波長進(jìn)行組合，得到組合波長和組合相位差，然后計(jì)算各像素點(diǎn)的深度，根據(jù)設(shè)定的物體表面的連續(xù)性約束條件，對(duì)各像素點(diǎn)的深度進(jìn)行解包絡(luò)，得到物體實(shí)際三維形狀。本發(fā)明的裝置包括：投影儀、照相機(jī)和計(jì)算機(jī)。本發(fā)明的方法和裝置，算法穩(wěn)定性好，可以測(cè)量表面形狀更加復(fù)雜的物體，測(cè)量精度高于已有技術(shù)。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人清華紫光股份有限公司;
- 發(fā)明人辛建波;高宏;
- 地址100084北京市海淀區(qū)清華園清華大學(xué)紫光大樓
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN200510132886.6
- 申請(qǐng)時(shí)間2005年12月29日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN1330928C
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2007年08月08日
- 分類號(hào)G01B11/24(2006.01);G01B21/20(2006.01);
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