摘要：本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體激光器離線測(cè)試方法，各待測(cè)試半導(dǎo)體激光器與各測(cè)試裝置一一對(duì)應(yīng)安裝在測(cè)試平臺(tái)上，所述各測(cè)試裝置中分別包含電源模塊，以對(duì)各測(cè)試裝置供電，各測(cè)試裝置通過數(shù)據(jù)總線與控制主機(jī)電連接，該方法包括：測(cè)試裝置接收控制主機(jī)發(fā)送的包括各待測(cè)試參數(shù)的測(cè)試指令；測(cè)試裝置斷開與控制主機(jī)間的電連接，并控制分別與各待測(cè)試參數(shù)對(duì)應(yīng)的傳感器對(duì)待測(cè)試半導(dǎo)體激光器的各待測(cè)試參數(shù)分別進(jìn)行參數(shù)數(shù)據(jù)采集；測(cè)試裝置對(duì)采集到的參數(shù)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，并存儲(chǔ)處理結(jié)果；測(cè)試裝置測(cè)試完成后斷開與半導(dǎo)體激光器的連接，并將處理結(jié)果發(fā)送給控制主機(jī)，以實(shí)現(xiàn)對(duì)各半導(dǎo)體激光器工作參數(shù)的離線測(cè)試。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人北京光電技術(shù)研究所;
- 發(fā)明人張麗雯;陸耀東;王濤;任奕奕;宋金鵬;張玉瑩;
- 地址100010 北京市東城區(qū)東皇城根北街甲20號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201510251356.7
- 申請(qǐng)時(shí)間2015年05月15日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN104880659A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2015年09月02日
- 分類號(hào)G01R31/26(2014.01)I;G01M11/00(2006.01)I;
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