摘要：本發(fā)明提供一種半導體激光器測試裝置、系統(tǒng)和方法，通過利用電壓傳感器、電流傳感器、功率傳感器和溫度傳感器分別測量半導體激光器的輸入電壓、輸入電流、輸入功率和工作溫度，然后利用數(shù)據(jù)采集電路對測量得到的輸入電壓、輸入電流、輸入功率和工作溫度進行數(shù)據(jù)采集得到輸入電壓、輸入電流、輸入功率和工作溫度的變化曲線，由于采用了對半導體激光器的多種參量進行測量，獲得輸入電壓、輸入電流、輸入功率和工作溫度的變化曲線的方式，不僅能夠根據(jù)輸入電壓、輸入電流、輸入功率和工作溫度的變化曲線直觀反映半導體激光器工作狀態(tài)的穩(wěn)定性，而且提高了測試的準確性。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京光電技術(shù)研究所;
- 發(fā)明人張麗雯;陸耀東;高和平;任奕奕;宋金鵬;
- 地址100010 北京市東城區(qū)東皇城根北街甲20號
- 申請?zhí)?/b>CN201410354468.0
- 申請時間2014年07月23日
- 申請公布號CN104237762A
- 申請公布時間2014年12月24日
- 分類號G01R31/26(2014.01)I;G01R31/00(2006.01)I;
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