摘要：本發(fā)明提供一種芯片故障定位方法、裝置及系統(tǒng)。本發(fā)明芯片故障定位方法，包括：在調(diào)試模式下獲取調(diào)試指令并執(zhí)行；在測試模式下獲取掃描鏈模式指令；根據(jù)所述掃描鏈模式指令控制芯片的觸發(fā)器形成掃描鏈；在所述測試模式下獲取測試數(shù)據(jù)；將所述測試數(shù)據(jù)輸入掃描鏈中，依次移出所述掃描鏈中觸發(fā)器的值；根據(jù)移出的觸發(fā)器的值定位芯片故障位置。本發(fā)明提高了故障定位的效率以及準(zhǔn)確度。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人龍芯中科技術(shù)有限公司;
- 發(fā)明人陳華軍;齊子初;
- 地址100190 北京市海淀區(qū)中關(guān)村科學(xué)院南路10號(hào)
- 申請?zhí)?/b>CN201310717666.4
- 申請時(shí)間2013年12月23日
- 申請公布號(hào)CN103675641A
- 申請公布時(shí)間2014年03月26日
- 分類號(hào)G01R31/26(2014.01)I;
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