摘要：本發(fā)明適用于檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，提供了尤其涉及一種設(shè)備直線度和垂直度的檢測(cè)方法、裝置，所述方法包括：根據(jù)獲取到所述Ｍ1幅圖像中標(biāo)記點(diǎn)的像素坐標(biāo)，擬合生成所述X軸的標(biāo)記點(diǎn)直線，生成所述設(shè)備的X軸的直線度測(cè)試結(jié)果；根據(jù)獲取到所述Ｍ1幅圖像中標(biāo)記點(diǎn)的像素坐標(biāo)，擬合生成所述Ｙ軸的標(biāo)記點(diǎn)直線，生成所述設(shè)備的Y軸的直線度測(cè)試結(jié)果；根據(jù)所述θx和所述θy生成所述X軸與所述Y軸的夾角θxy，生成所述設(shè)備X軸與Ｙ軸之間的垂直度測(cè)試結(jié)果。解決了現(xiàn)有的設(shè)備直線度和垂直度檢測(cè)效率低、成本高的問題，增大了檢測(cè)設(shè)備直線度和垂直度的應(yīng)用范圍，并提高了設(shè)備直線度和垂直度的檢測(cè)效率。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族電機(jī)科技有限公司;
- 發(fā)明人舒遠(yuǎn);王光能;閆靜;米野;高云峰;
- 地址518000 廣東省深圳市南山區(qū)高新技術(shù)園北區(qū)新西路9號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201310507811.6
- 申請(qǐng)時(shí)間2013年10月24日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN104567749A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2015年04月29日
- 分類號(hào)G01B11/27(2006.01)I;G01B11/26(2006.01)I;
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