摘要：本發(fā)明涉及圖像檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種TFT-LCD點(diǎn)燈自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的圖像處理方法。該圖像處理方法，包括：采集顯示屏處于不同模式下的圖像；對(duì)采集到的圖像進(jìn)行預(yù)處理，去除背景干擾；對(duì)預(yù)處理過的圖像進(jìn)行掩膜處理；缺陷提取計(jì)算。本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT-LCD點(diǎn)燈自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的圖像處理方法應(yīng)用自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)多個(gè)模式，能將點(diǎn)、線、Mura缺陷正常檢測(cè)，且可將亮點(diǎn)、亮線缺陷精確定位到一個(gè)亞像素、Mura缺陷按照SEMU準(zhǔn)則分類。該圖像處理流程簡(jiǎn)便，可有效確保檢出率。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人北京兆維電子（集團(tuán)）有限責(zé)任公司;
- 發(fā)明人王新新;李晨;徐江偉;
- 地址100015 北京市朝陽區(qū)酒仙橋路14號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201310005039.8
- 申請(qǐng)時(shí)間2013年01月07日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN103913461A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2014年07月09日
- 分類號(hào)G01N21/88(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I;
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