摘要：一種激光燒蝕電感耦合等離子體質(zhì)譜原位統(tǒng)計分布分析系統(tǒng)，屬于材料分析表征技術(shù)領(lǐng)域。包括激光燒蝕進樣系統(tǒng)、ICP離子源系統(tǒng)、接口系統(tǒng)、離子傳輸系統(tǒng)、質(zhì)譜檢測系統(tǒng)、連續(xù)激發(fā)同步掃描的樣品移動/定位系統(tǒng)和對采集到的質(zhì)譜信號進行數(shù)學(xué)解析的信號處理系統(tǒng)?；跇悠返倪B續(xù)激發(fā)同步掃描移動/定位和激光燒蝕ICP-MS的、可以實現(xiàn)金屬或非金屬材料非平整表面大尺度范圍內(nèi)化學(xué)成分及其狀態(tài)的原位統(tǒng)計分布分析。優(yōu)點在于，既可以用于金屬樣品，又適用于非金屬樣品；可分析低至0.1μg/g元素的含量和分布；比金屬原位分析儀的靈敏度提高3個數(shù)量級；既適用于表面規(guī)則平整的樣品，也適用于不規(guī)則或異型面樣品。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京納克分析儀器有限公司;
- 發(fā)明人王海舟;陳吉文;袁良經(jīng);余興;李宏偉;李明;韓鵬程;陳永彥;趙雷;趙英飛;劉佳;
- 地址100081 北京市海淀區(qū)高粱橋斜街13號
- 申請?zhí)?/b>CN201110302956.3
- 申請時間2011年10月09日
- 申請公布號CN102375022A
- 申請公布時間2012年03月14日
- 分類號G01N27/62(2006.01)I;G01N1/44(2006.01)I;
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