摘要：本實(shí)用新型公開(kāi)一種光譜分析小樣品表面定位裝置，該裝置安裝于光譜分析儀器中，包括裝有樣品（1）的樣品盒（2），若干或多個(gè)樣品盒（2）放置在樣品盒平臺(tái)（3）上，樣品盒平臺(tái)（3）設(shè)置在X軸與Y軸組成的運(yùn)行裝置上，樣品盒（2）內(nèi)部的樣品（1）下方設(shè)置有樣品頂緊裝置（8），使樣品（1）的上分析表面與光譜分析儀采光高度位置一致；本實(shí)用新型的X軸與Y軸運(yùn)行裝置為正交連接；本實(shí)用新型可同時(shí)進(jìn)行多品種或多型號(hào)樣品的分析，使分析效率提高，分析過(guò)程更加方便以及分析結(jié)果更加精確。
- 專(zhuān)利類(lèi)型實(shí)用新型
- 申請(qǐng)人鋼研納克檢測(cè)技術(shù)有限公司;
- 發(fā)明人陳永彥;張勇;韓鵬程;屈華陽(yáng);趙雷;劉佳;
- 地址100081 北京市海淀區(qū)高粱橋斜街13號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201320370497.7
- 申請(qǐng)時(shí)間2013年06月26日
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- 申請(qǐng)公布時(shí)間2014年03月26日
- 分類(lèi)號(hào)G01N21/01(2006.01)I;
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