摘要：用于云紋干涉法中的閃耀衍射光柵。本發(fā)明屬用光學(xué)方法和衍射光柵元件測(cè)量固體的變形。本發(fā)明為用于云紋干涉法中的位相型閃耀衍射光柵。其斷面形狀為等腰三角形。密度為50～1200線/毫米的平行柵和正交柵。復(fù)制在試件表面上形成試件柵。選擇等腰三角形的斜面傾角β和光柵節(jié)距p，使入射的相干準(zhǔn)直光在所需要的m衍射極上進(jìn)行閃耀，獲得最大光強(qiáng)。利用衍射波前的干涉，可以獲得代表試件表面的位移場(chǎng)和應(yīng)變場(chǎng)的高靈敏度、高反差的云紋干涉條紋圖。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人清華大學(xué);北京光學(xué)儀器廠;
- 發(fā)明人傅承誦;吳振華;戴福隆;
- 地址北京市海淀區(qū)清華園
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN85100054
- 申請(qǐng)時(shí)間1985年04月01日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN85100054B
- 申請(qǐng)公布時(shí)間1986年10月22日
- 分類號(hào)G02B5/18;G01B11/16;
教育裝備采購網(wǎng)企業(yè)微信客服
京公網(wǎng)安備11010802043465號(hào)
