摘要：本實(shí)用新型提供了一種大顆粒物料的近紅外光譜分析裝置，所述近紅外光譜分析裝置包括分析儀表；采樣單元，所述采樣單元用于采樣待測(cè)樣品，并送粉碎單元；粉碎單元，所述粉碎單元用于粉碎傳送來(lái)的待測(cè)樣品，粉碎后的待測(cè)樣品送分析儀表分析；留樣單元，所述留樣單元安裝在所述粉碎單元的下游，用于留樣分析后的待測(cè)樣品。本實(shí)用新型具有精度高等優(yōu)點(diǎn)。
- 專利類型實(shí)用新型
- 申請(qǐng)人聚光科技（杭州）股份有限公司;
- 發(fā)明人周新奇;韓雙來(lái);郭中原;楊偉偉;陳勝福;慎石磊;張丹;胡杰;吳鍵波;
- 地址310052 浙江省杭州市濱江區(qū)濱安路760號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201521140478.0
- 申請(qǐng)時(shí)間2015年12月31日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN205484031U
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2016年08月17日
- 分類號(hào)G01N21/359(2014.01)I;G01N21/3563(2014.01)I;
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