摘要：本發(fā)明提供了一種大顆粒物料的近紅外光譜分析裝置及方法，所述近紅外光譜分析裝置包括分析儀表；采樣單元，所述采樣單元用于采樣待測樣品，并送粉碎單元；粉碎單元，所述粉碎單元用于粉碎傳送來的待測樣品，粉碎后的待測樣品送分析儀表分析；留樣單元，所述留樣單元安裝在所述粉碎單元的下游，用于留樣分析后的待測樣品。本發(fā)明具有精度高等優(yōu)點。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人聚光科技（杭州）股份有限公司;
- 發(fā)明人周新奇;韓雙來;郭中原;楊偉偉;陳勝福;慎石磊;張丹;胡杰;吳鍵波;
- 地址310052 浙江省杭州市濱江區(qū)濱安路760號
- 申請?zhí)?/b>CN201511031439.1
- 申請時間2015年12月31日
- 申請公布號CN105445221A
- 申請公布時間2016年03月30日
- 分類號G01N21/359(2014.01)I;G01N21/3563(2014.01)I;
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