摘要：本實(shí)用新型提供了一種質(zhì)譜分析儀，包括電子源、電子門(mén)以及離子阱；所述質(zhì)譜分析儀還包括：檢測(cè)單元，所述檢測(cè)單元用于檢測(cè)所述離子阱的工作電信號(hào)，并傳送到控制單元；控制單元，所述控制單元用于根據(jù)接收到的所述工作電信號(hào)而控制所述電子門(mén)，從而使得當(dāng)所述離子阱的中心與所述電子源間的電勢(shì)差為定值時(shí)，所述電子門(mén)打開(kāi)，否則關(guān)閉所述電子門(mén)。本實(shí)用新型具有測(cè)量準(zhǔn)確度高、成本低的等優(yōu)點(diǎn)。
- 專利類型實(shí)用新型
- 申請(qǐng)人聚光科技(杭州)股份有限公司;
- 發(fā)明人劉立鵬;梁炎;鄭毅;馬喬;鄧嘉輝;
- 地址310052 浙江省杭州市濱江區(qū)濱安路760號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201120358583.7
- 申請(qǐng)時(shí)間2011年09月23日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN202217640U
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2012年05月09日
- 分類號(hào)H01J49/02(2006.01)I;
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