摘要：本實用新型提供了一種質(zhì)譜分析儀，包括電子源、電子門以及離子阱；所述質(zhì)譜分析儀還包括：檢測單元，所述檢測單元用于檢測所述離子阱的工作電信號，并傳送到控制單元；控制單元，所述控制單元用于根據(jù)接收到的所述工作電信號而控制所述電子門，從而使得當所述離子阱的中心與所述電子源間的電勢差為定值時，所述電子門打開，否則關(guān)閉所述電子門。本實用新型具有測量準確度高、成本低的等優(yōu)點。
- 專利類型實用新型
- 申請人聚光科技(杭州)股份有限公司;
- 發(fā)明人劉立鵬;梁炎;鄭毅;馬喬;鄧嘉輝;
- 地址310052 浙江省杭州市濱江區(qū)濱安路760號
- 申請?zhí)?/b>CN201120358583.7
- 申請時間2011年09月23日
- 申請公布號CN202217640U
- 申請公布時間2012年05月09日
- 分類號H01J49/02(2006.01)I;
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