摘要：本發(fā)明公開了一種SF6開關柜的氦質譜檢漏的方法，系統(tǒng)電氣控制通過PLC來實現(xiàn)，將SF6開關柜置于真空箱內，連接好SF6開關柜的抽空管道，系統(tǒng)自動的完成對真空箱體、SF6開關柜的抽空，待抽空完成，氦氣充注回收系統(tǒng)向SF6開關柜充注一定壓力的氦氣，SF6開關柜中的氦氣充注氦氣完成，開啟檢漏真空擋板閥，通過氦質譜檢漏儀顯示漏率變化，來判斷SF6開關柜密封情況，從而判斷被檢SF6開關柜密封性是否合格。同時，采用真空箱抽空與SF6開關柜抽空同時進行，并實時監(jiān)測箱體與SF6開關柜的壓力，保證SF6內外壓差在一定的范圍內，從而確保了工件不會因為內外壓差過大而造成損壞。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人安徽皖儀科技股份有限公司;
- 發(fā)明人朱長平;
- 地址230088 安徽省合肥市高新區(qū)天達路71號華億科技園B幢皖儀大廈
- 申請?zhí)?/b>CN201610703759.5
- 申請時間2016年08月22日
- 申請公布號CN106370359A
- 申請公布時間2017年02月01日
- 分類號G01M3/20(2006.01)I;
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