摘要：本發(fā)明公開(kāi)了一種實(shí)現(xiàn)在內(nèi)存顆粒進(jìn)行故障校驗(yàn)以增強(qiáng)模組條穩(wěn)定性的方法，具體步驟如下：第一步：在DRAM內(nèi)部預(yù)留額外空間儲(chǔ)存更正檢查碼；第二步：當(dāng)系統(tǒng)將資料寫(xiě)入?ECC?DRAM時(shí)，ECC?DRAM的內(nèi)部電路會(huì)自動(dòng)即時(shí)將資料運(yùn)算產(chǎn)生更正檢查碼，儲(chǔ)存在DRAM內(nèi)部的額外記憶體空間中；第三步：當(dāng)系統(tǒng)需要讀取資料時(shí)，ECC?DRAM會(huì)取出資料與更正檢查碼，自動(dòng)比對(duì)后輸出正確資料；第四步：DRAM實(shí)現(xiàn)ECC功能；第五步：進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)模組的偵錯(cuò)更正功能，實(shí)現(xiàn)雙重保障。本發(fā)明可以使系統(tǒng)輕松獲得ECC的偵錯(cuò)更正功能，提高系統(tǒng)的可靠度與穩(wěn)定度到伺服器等級(jí)，且對(duì)功能安全性要求更高的電子系統(tǒng)，有更強(qiáng)大的發(fā)展?jié)摿?。因而，本發(fā)明具有很好的推廣使用價(jià)值。
- 專(zhuān)利類(lèi)型發(fā)明專(zhuān)利
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- 申請(qǐng)時(shí)間2016年05月25日
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- 申請(qǐng)公布時(shí)間2016年10月12日
- 分類(lèi)號(hào)G06F11/20(2006.01)I;
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