摘要：本發(fā)明公開了一種實現(xiàn)在內(nèi)存顆粒進行故障校驗以增強模組條穩(wěn)定性的方法，具體步驟如下：第一步：在DRAM內(nèi)部預留額外空間儲存更正檢查碼；第二步：當系統(tǒng)將資料寫入?ECC?DRAM時，ECC?DRAM的內(nèi)部電路會自動即時將資料運算產(chǎn)生更正檢查碼，儲存在DRAM內(nèi)部的額外記憶體空間中；第三步：當系統(tǒng)需要讀取資料時，ECC?DRAM會取出資料與更正檢查碼，自動比對后輸出正確資料；第四步：DRAM實現(xiàn)ECC功能；第五步：進一步實現(xiàn)模組的偵錯更正功能，實現(xiàn)雙重保障。本發(fā)明可以使系統(tǒng)輕松獲得ECC的偵錯更正功能，提高系統(tǒng)的可靠度與穩(wěn)定度到伺服器等級，且對功能安全性要求更高的電子系統(tǒng)，有更強大的發(fā)展?jié)摿?。因而，本發(fā)明具有很好的推廣使用價值。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司;
- 發(fā)明人劉勝;
- 地址250101 山東省濟南市高新區(qū)浪潮路1036號
- 申請?zhí)?/b>CN201610353156.7
- 申請時間2016年05月25日
- 申請公布號CN106021035A
- 申請公布時間2016年10月12日
- 分類號G06F11/20(2006.01)I;
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