摘要：本發(fā)明公開了一種熒光檢測儀器的校準(zhǔn)方法,用于熒光檢測儀器出廠前的校準(zhǔn)，將熒光檢測儀器的光源強度檢測和信號檢測模塊參數(shù)校準(zhǔn)分兩步獨立進(jìn)行，光源強度檢測適用光強測量儀測量光強度，信號檢測模塊參數(shù)校準(zhǔn)使用標(biāo)準(zhǔn)光源作為檢測光源；本發(fā)明采用現(xiàn)有的經(jīng)過計量確定的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備進(jìn)行定標(biāo)，具有標(biāo)準(zhǔn)可追溯性和確定性，能適合大批量和精確測量；同時本發(fā)明方法還可用來做儀器的質(zhì)控，檢測光源是否會運行時間長衰減，如果光源衰減可以更換光源，本發(fā)明提高了量產(chǎn)中熒光檢測儀器的一致性。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人深圳市華科瑞科技有限公司;
- 發(fā)明人丁衛(wèi)東;
- 地址518019 廣東省深圳市羅湖區(qū)太白路1038號安琪大廈三樓301
- 申請?zhí)?/b>CN201610220080.0
- 申請時間2016年04月11日
- 申請公布號CN105928911A
- 申請公布時間2016年09月07日
- 分類號G01N21/64(2006.01)I;
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