摘要：本發(fā)明公開(kāi)了一種熒光檢測(cè)儀器的校準(zhǔn)方法,用于熒光檢測(cè)儀器出廠(chǎng)前的校準(zhǔn)，將熒光檢測(cè)儀器的光源強(qiáng)度檢測(cè)和信號(hào)檢測(cè)模塊參數(shù)校準(zhǔn)分兩步獨(dú)立進(jìn)行，光源強(qiáng)度檢測(cè)適用光強(qiáng)測(cè)量?jī)x測(cè)量光強(qiáng)度，信號(hào)檢測(cè)模塊參數(shù)校準(zhǔn)使用標(biāo)準(zhǔn)光源作為檢測(cè)光源；本發(fā)明采用現(xiàn)有的經(jīng)過(guò)計(jì)量確定的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備進(jìn)行定標(biāo)，具有標(biāo)準(zhǔn)可追溯性和確定性，能適合大批量和精確測(cè)量；同時(shí)本發(fā)明方法還可用來(lái)做儀器的質(zhì)控，檢測(cè)光源是否會(huì)運(yùn)行時(shí)間長(zhǎng)衰減，如果光源衰減可以更換光源，本發(fā)明提高了量產(chǎn)中熒光檢測(cè)儀器的一致性。
- 專(zhuān)利類(lèi)型發(fā)明專(zhuān)利
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- 申請(qǐng)公布時(shí)間2016年09月07日
- 分類(lèi)號(hào)G01N21/64(2006.01)I;
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