摘要：本發(fā)明公開了一種基于硅基液晶的波長分辨監(jiān)測方法?；诠杌壕г谕瑯拥钠秒妷合拢瑢Σ煌ㄩL入射光有不同的相位調制的特性，對在硅基液晶波長工作范圍內的光信號實現(xiàn)分析與監(jiān)測，并能在入射光波長未知的條件下，對該波長進行測量，并能隨著相位調制精度的提高，提高波長的分辨精度。本發(fā)明元件少，系統(tǒng)結構簡單緊湊，對光路的準直要求不高，無需苛刻光路的耦合與復雜操作就能進行波長的分辨，并且有著與入射光偏振態(tài)無關的特性，在分辨出波長的同時，還能對入射光束的偏振態(tài)進行測量，適用范圍更廣。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華中科技大學;
- 發(fā)明人付松年;崔靜嫻;洪志坤;劉德明;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號
- 申請?zhí)?/b>CN201610145861.8
- 申請時間2016年03月15日
- 申請公布號CN105841825A
- 申請公布時間2016年08月10日
- 分類號G01J9/00(2006.01)I;
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