摘要：本發(fā)明提供了一種基于紫外光激發(fā)的全光譜光致發(fā)光光譜檢測系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括探測器、影像校正光譜儀、入射狹縫、匯聚透鏡、瑞利散射濾光片、聚焦物鏡、樣品以及激光器，所述的系統(tǒng)還包括設(shè)置在瑞利散射濾光片與聚焦物鏡之間的硅片。所述的硅片包括第一部件、第二部件以及第三部件。在本發(fā)明的優(yōu)選實施方式中，第一部件為圓形環(huán)，第二部件沿所述的圓形環(huán)的徑向延伸，且第二部件的兩端與圓形環(huán)相接，第三部件設(shè)置在第二部件的中心。通過由采用特殊工藝制成的硅片替換現(xiàn)有光致發(fā)光光譜檢測系統(tǒng)中的二向色鏡，實現(xiàn)了熒光的光譜范圍不受任何限制，全波段通光，克服了現(xiàn)有技術(shù)中的光致發(fā)光光譜檢測系統(tǒng)無法檢測更寬波段的技術(shù)問題。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京卓立漢光儀器有限公司;
- 發(fā)明人張恒;
- 地址101102 北京市中關(guān)村科技園區(qū)通州園金橋產(chǎn)業(yè)基地環(huán)科中路16號，聯(lián)東U谷中試區(qū)68號B座
- 申請?zhí)?/b>CN201610194828.4
- 申請時間2016年03月31日
- 申請公布號CN105806817A
- 申請公布時間2016年07月27日
- 分類號G01N21/64(2006.01)I;
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