摘要：本發(fā)明涉及一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀。包括機械探針7，步進電機1，磁柵尺、底座6，在所述底座6的兩端設有支架5，支架5的一端安裝有步進電機1，在支架5的中間設置絲杠導軌2，步進電機1與絲杠導軌2連接，在絲杠導軌2上設置滑塊3；所述磁柵尺為開放式，包括磁條8、磁頭9；所述磁柵尺安裝在所述滑塊3的外表面，在所述滑塊3上設置固定架4，所述探針7直接與磁條8固定在固定架4上，所述磁頭9設置在滑塊3上，所述磁頭9與探針7相嵌合。本發(fā)明便于攜帶至實驗現(xiàn)場，尤其對于很多不便于拆卸的平面平整度能夠進行有效而便捷的測量；精度較高，無需人員讀數(shù)或者其余高難度操作；自動化程度高，能夠準確獲得位置信息及該位置的平整度信息。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華中科技大學;
- 發(fā)明人張代林;朱鴻;左蘇;劉陽;陳幼平;張岡;張興;張湧正;
- 地址430074 湖北省武漢市珞喻路1037號
- 申請?zhí)?/b>CN201510826674.1
- 申請時間2015年11月25日
- 申請公布號CN105403142A
- 申請公布時間2016年03月16日
- 分類號G01B7/34(2006.01)I;
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