摘要：本發(fā)明公開了屬于高壓氣體放電電磁測量技術(shù)領(lǐng)域的一種高壓導(dǎo)線粗糙系數(shù)的測量裝置和方法。圓柱電極水平放置于支架上，圓柱電極電氣接地；待測高壓導(dǎo)線水平固定于支桿上，并與圓柱電極同軸放置；直流電場測量儀的探頭放置于圓柱電極上的圓孔內(nèi)，并與圓柱電極的內(nèi)表面平齊；連接高壓直流電源的輸出端，在圓柱電極的內(nèi)表面和待測高壓導(dǎo)線之間形成合成電場，并產(chǎn)生離子流；采樣電阻的一端連接金屬薄膜，另一端接地；采樣電阻的兩端并聯(lián)電壓表；調(diào)節(jié)高壓直流電源的輸出電壓，得到圓柱電極處的合成電場強(qiáng)度、離子流密度、待測高壓導(dǎo)線表面的合成電場強(qiáng)度；進(jìn)而根據(jù)Peek公式獲得待測高壓導(dǎo)線的粗糙系數(shù)。能夠?qū)崿F(xiàn)高壓導(dǎo)線粗糙系數(shù)的準(zhǔn)確測量。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華北電力大學(xué);
- 發(fā)明人鄒志龍;盧鐵兵;崔翔;卞星明;李沁遠(yuǎn);
- 地址102206 北京市昌平區(qū)朱辛莊北農(nóng)路2號
- 申請?zhí)?/b>CN201510686248.2
- 申請時間2015年10月21日
- 申請公布號CN105203021A
- 申請公布時間2015年12月30日
- 分類號G01B7/34(2006.01)I;
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