摘要：本發(fā)明公開了一種鏡像綜合孔徑輻射計圖像反演方法，該方法包括根據(jù)MIAS陣列輸出互相關(guān)值向量R和MIAS陣列的沖擊響應(yīng)矩陣G獲得天線輸出互相關(guān)值向量R的概率測度初始值β和亮溫圖像不同像素點(diǎn)Ti的概率測度初始值αi；計算后驗概率的均值μ和后驗概率的協(xié)方差Z，迭代更新β和α并判斷天線輸出互相關(guān)值向量R的概率測度更新值βnew和亮溫Ti的概率測度更新值αnew是否同時收斂，若是則將最后一次迭代得到的μ＝βZG'R作為亮溫圖像T的估計值進(jìn)行輸出，獲得亮溫圖像分布T，若否，則返回進(jìn)一步計算μ和Z。本發(fā)明能夠有效的降低獲得最優(yōu)模型的計算復(fù)雜度，自動選取最優(yōu)模型參數(shù)進(jìn)行亮溫反演，是一種新型的鏡像綜合孔徑亮溫重建方法，可以更高效地重建原始場景的亮溫圖像。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華中科技大學(xué);
- 發(fā)明人陳柯;胡孔勇;李青俠;桂良啟;郎量;郭偉;靳榕;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號
- 申請?zhí)?/b>CN201510710219.5
- 申請時間2015年10月28日
- 申請公布號CN105353375A
- 申請公布時間2016年02月24日
- 分類號G01S13/90(2006.01)I;G01S7/295(2006.01)I;
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