摘要：本發(fā)明公開了非均勻采樣綜合孔徑輻射計(jì)的圖像反演方法，包括根據(jù)天線單元的位置坐標(biāo)計(jì)算非均勻采樣點(diǎn)的位置，并獲得非均勻采樣點(diǎn)的可見度函數(shù)的值；根據(jù)非均勻采樣點(diǎn)的位置將空間頻率域分割成多個(gè)區(qū)域，并計(jì)算每個(gè)區(qū)域的面積；根據(jù)每個(gè)區(qū)域的面積對(duì)非均勻采樣點(diǎn)的可見度函數(shù)的值進(jìn)行離散卷積運(yùn)算，獲得均勻采樣點(diǎn)的可見度函數(shù)的值；對(duì)均勻采樣點(diǎn)的可見度函數(shù)的值進(jìn)行傅里葉逆變換，獲得觀測空間的中間亮溫分布圖像；根據(jù)中間亮溫分布圖像和窗函數(shù)的傅里葉逆變換的結(jié)果獲得修正場景亮溫圖像；根據(jù)修正場景亮溫圖像和觀測場景亮溫的傾斜因子的倒數(shù)獲得觀測場景亮溫圖像。本發(fā)明能快速，高效，精確地反演非均勻采樣綜合孔徑輻射計(jì)的場景亮溫分布圖像。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人華中科技大學(xué);
- 發(fā)明人李青俠;豐勵(lì);
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201310176506.3
- 申請(qǐng)時(shí)間2013年05月13日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN103323845B
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2015年04月15日
- 分類號(hào)G01S13/90(2006.01)I;
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