摘要：本發(fā)明公開了非均勻采樣綜合孔徑輻射計的圖像反演方法，包括根據(jù)天線單元的位置坐標(biāo)計算非均勻采樣點的位置，并獲得非均勻采樣點的可見度函數(shù)的值；根據(jù)非均勻采樣點的位置將空間頻率域分割成多個區(qū)域，并計算每個區(qū)域的面積；根據(jù)每個區(qū)域的面積對非均勻采樣點的可見度函數(shù)的值進(jìn)行離散卷積運算，獲得均勻采樣點的可見度函數(shù)的值；對均勻采樣點的可見度函數(shù)的值進(jìn)行傅里葉逆變換，獲得觀測空間的中間亮溫分布圖像；根據(jù)中間亮溫分布圖像和窗函數(shù)的傅里葉逆變換的結(jié)果獲得修正場景亮溫圖像；根據(jù)修正場景亮溫圖像和觀測場景亮溫的傾斜因子的倒數(shù)獲得觀測場景亮溫圖像。本發(fā)明能快速，高效，精確地反演非均勻采樣綜合孔徑輻射計的場景亮溫分布圖像。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華中科技大學(xué);
- 發(fā)明人李青俠;豐勵;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號
- 申請?zhí)?/b>CN201310176506.3
- 申請時間2013年05月13日
- 申請公布號CN103323845B
- 申請公布時間2015年04月15日
- 分類號G01S13/90(2006.01)I;
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