摘要：本發(fā)明涉及一種光學(xué)材料折射率曲線測(cè)量方法及裝置。該方法，首先通過一寬帶光相干干涉系統(tǒng)測(cè)量待測(cè)光學(xué)材料不同波長(zhǎng)的群折射率值；其次，通過一激光雙縫干涉系統(tǒng)測(cè)量待測(cè)光學(xué)材料在一確定的激光的波長(zhǎng)下對(duì)應(yīng)的折射率值；最后，采用積分算法結(jié)合上述的測(cè)量結(jié)果對(duì)待測(cè)光學(xué)材料在整個(gè)波長(zhǎng)范圍的群折射率值進(jìn)行計(jì)算，進(jìn)而得到待測(cè)光學(xué)材料在整個(gè)波長(zhǎng)范圍的折射率曲線。本發(fā)明簡(jiǎn)化了傳統(tǒng)復(fù)雜的操作，實(shí)現(xiàn)材料在整個(gè)波段的折射率曲線的簡(jiǎn)易測(cè)量，是一種快速便捷的高精度的實(shí)用性強(qiáng)的材料折射率測(cè)量方法。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人福州大學(xué);
- 發(fā)明人鐘舜聰;張秋坤;鐘劍鋒;
- 地址350108 福建省福州市閩侯縣上街鎮(zhèn)大學(xué)城學(xué)園路2號(hào)福州大學(xué)新區(qū)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201510562661.8
- 申請(qǐng)時(shí)間2015年09月08日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN105115940A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2015年12月02日
- 分類號(hào)G01N21/45(2006.01)I;
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