摘要：本發(fā)明涉及一種光學(xué)材料折射率曲線測量方法及裝置。該方法，首先通過一寬帶光相干干涉系統(tǒng)測量待測光學(xué)材料不同波長的群折射率值；其次，通過一激光雙縫干涉系統(tǒng)測量待測光學(xué)材料在一確定的激光的波長下對應(yīng)的折射率值；最后，采用積分算法結(jié)合上述的測量結(jié)果對待測光學(xué)材料在整個波長范圍的群折射率值進行計算，進而得到待測光學(xué)材料在整個波長范圍的折射率曲線。本發(fā)明簡化了傳統(tǒng)復(fù)雜的操作，實現(xiàn)材料在整個波段的折射率曲線的簡易測量，是一種快速便捷的高精度的實用性強的材料折射率測量方法。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人福州大學(xué);
- 發(fā)明人鐘舜聰;張秋坤;鐘劍鋒;
- 地址350108 福建省福州市閩侯縣上街鎮(zhèn)大學(xué)城學(xué)園路2號福州大學(xué)新區(qū)
- 申請?zhí)?/b>CN201510562661.8
- 申請時間2015年09月08日
- 申請公布號CN105115940A
- 申請公布時間2015年12月02日
- 分類號G01N21/45(2006.01)I;
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