摘要：本發(fā)明屬于光譜分析技術(shù)。為了降低阿達(dá)瑪變換近紅外光譜儀的體積，本發(fā)明提供了一種阿達(dá)瑪變換近紅外光譜儀檢測(cè)光的方法，包括透過(guò)樣品的入射光被準(zhǔn)直后投射到光柵的步驟、投射到光柵的光發(fā)生第一次衍射并經(jīng)準(zhǔn)直后投射到微鏡陣列的步驟，經(jīng)微鏡陣列調(diào)制并反射的光被準(zhǔn)直后投射到所述光柵進(jìn)行第二次衍射步驟，聚焦步驟A第二次衍射的光到檢測(cè)器步驟。本發(fā)明可以廣泛應(yīng)用于物質(zhì)的近紅外光譜分析領(lǐng)域。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人北京華夏科創(chuàng)儀器技術(shù)有限公司;浙江譜創(chuàng)儀器有限公司;
- 發(fā)明人張新民;曾立波;馮新瀘;
- 地址100085 北京市海淀區(qū)上地信息路2號(hào)C座8層808室
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN200810239143.2
- 申請(qǐng)時(shí)間2008年12月10日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN101419164B
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2010年12月22日
- 分類號(hào)G01N21/45(2006.01)I;
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